一、外觀不合格
　　主要有殘缺，裂紋，洞眼，溫低等。
　　殘缺也稱麻殘，表現為棒體表面有缺損，影響到使用或有損于產品的商品化，產生這類廢品的原因，視其產生部位而定，如在發熱部位而定。如在發熱部上產生麻坑（多發生在散裝法燒成的棒體上），則主要是硅化料中石英砂顆粒太大或混料不均勻，燒成時石英熔融侵蝕，蒸發的同時把碳化硅分解所致，此外，中后期使用功率過大，停爐溫度太高也是極為關鍵的因素，解決的辦法是控制石英砂的粒度在24#以細和在發熱體上涂以用150#碳化硅，120#經細石墨粉和糊精配成的涂料，涂層厚度約為1mm左右。如在端頭部位產生疏松狀的殘損，則因端部氣孔率高，燒成時長時間處于低溫階段，表面被氧化，或端部素燒時已氧化所致。如棒體有打弧引起的氣流沖刷棒殘損，則可能是爐料中石英含量高，電爐送電（特別是中后期）功率高，以致電流過大，造成分流后打弧所致。應經常分析爐料中的各種成分含量，嚴格執行工藝配方和送電燒成的升溫曲線。
　　裂紋：這種廢品類型多發生在端部上。其表面形式為橫裂，豎裂和不規則裂紋。
　　橫裂，豎裂多是在成型時造成，經燒成后暴露；不規則裂紋多是素燒時溫度低所致，端部添加金屬硅的配方工藝，也不能排除硅化料中石英砂含量過高而引起的裂紋。
　　洞眼實際上是殘缺的一種類型，表現形式為局部的不規則缺損和孔洞。這種廢品產生的主要原因是配料，混料或成型過程中帶入雜質，也包括原料本身含有雜質，經燒成后雜質被排除而形成不規則的缺損或孔洞。
　　溫低：主要指硅碳棒燒成溫度不夠，使制品（主要是端部）結晶細小，端部與發熱部未燒結，主要是燒成溫度低或燒成時間短；如果是少量溫低，則是個別部位（主要出現于兩側的上頂）保溫料厚度不夠，或棒體所處的爐底部位保溫料下挖太深，使熱量散失嚴重，造成溫低。
　　二、幾何尺寸不符
　　主要表現為徑向尺寸，長度尺寸和彎曲。
　　直徑不符，這種情況多出現在發熱部直徑上，尤其是直徑8mm的小棒。原因一是成型時產量大、控制不嚴；二是素燒時，收縮，檢查不一致。另外，對于標準中用百分數控制幾何尺寸，計算結果精確到百分之一毫米，有一定的難度。
　　橢圓度超過標準規定，這種廢品很少，多出現于空心的中規格的棒體上，原因，整形時沒有整圓，或燒成時氣流沖刷使棒體橢圓。
　　長度尺寸不符是由于素燒后的切割尺寸或配套粘接不精確。
　　彎曲，就是超過標準中規定的彎曲度，燒成溫度低，燒成前段拖的時間長，可以造成發熱體彎曲。裝爐時，爐料鋪的不平，不實，厚度不均，擺放不整齊，可造成發熱體或二次棒燒成彎曲。
　　三、大電阻，小電阻
　　主要是硅碳棒的高溫電阻值超出了規定的電阻范圍，或大或小，這類廢品產生的原因較多，在廢品類型中占的比例較大，尤其是大電阻，所以在生產中應認真對待。
　　它主要以下幾方面的因素或幾個因素共同存在所致。
　　1．爐料純度不夠。爐料中含有較多的有害雜質，或裝爐操作時帶入雜質，都是產生大電阻的原因。尤其是爐料或爐芯料中含有較多的雜質時，其影響更為嚴重。
　　2．送電速率過快，特別是中后期升溫快，使用功率高，將會使爐芯電阻偏大，必然引起前期升溫慢，中后期升溫快，其結果與送電速率快相類似，硅化料，保溫料粒度太細，爐子透氣性差，雜質排除不暢，結果使制品電阻大。
　　3．硅化料中硅碳比失調，即碳多硅少，或未加食鹽，將會導致產品電阻大。硅量在一定范圍內過量將產生小電阻。
　　4．其它方面的影響。制品密度不夠，或發熱體一次硅化不良，或因爐料中未加食鹽等因素，都能出現大電阻廢品。
　　四、制品內在質量達不到要求
　　紅熱不均。就是在高溫下，棒體發熱不均勻，也就是制品長度方向上電阻率不一致。其原因，制品密度不均勻，硅化料混料不均，棒中孔偏芯，爐芯密度不一致造成的發熱不均以及殘留雜質等。
　　端部電阻率高，超出了標準中規定的界限。端部電阻率高使端部電阻在整條棒中所占的比例大，造成使用中端部溫度高，燒壞爐壁或接線卡具，同時耗能增加。
　　造成端部電阻大的原因：對于端部配方中加金屬硅的生產工藝，是端部燒成溫度過高；而對于不加金屬硅的生產工藝來說，則是端部燒成溫度低。接棒時棒體與套管之間有縫隙。生坯成型時密度小，結構疏松，顆粒細小，燒成溫度低，也能造成硅碳棒使用時套管過熱。
　　五、其它廢品類型
　　除上述廢品類型外，有一些則是一時難以發現的，如硅化不完善，它是產品的中間部分的殘留碳由于沒有完全硅化而保持素制品的顏色——黑色，故又稱黑芯。黑芯嚴重可造成產品在使用時，因殘碳氧化使產品電阻增大，直至影響到產品的使用壽命，由于這類廢品在外觀上難以判斷，為了分析原因，可將廢品棒砸斷或從出爐斷棒中觀察分析。這類廢品多因燒成溫度偏低；硅化劑用量不足；硅化料的粒度過粗或過細；食鹽加入量不足；送電升溫度速度過快等原因造成。